2012-02-02

10月27日~29日,2011中國國際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨納米技術(shù)產(chǎn)品展在蘇州國際博覽中心舉行。
昆山光微電子有限公司參加了此次傳感器與MEMS技術(shù)產(chǎn)業(yè)化專題產(chǎn)品展,首次展示了本公司研發(fā)出的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與故障熱分析系統(tǒng)(熱成像顯微鏡)。
該產(chǎn)品能夠測量并顯示電子器件或電路板的表面溫度分布,適用于IC行業(yè)裸芯片、集成電路的熱點(diǎn)和短路故障檢測、元件和電路板上缺陷查找、MEMS熱成像分析等,該產(chǎn)品配有功能強(qiáng)大的熱分析軟件,可支持多點(diǎn)溫度數(shù)據(jù)的采集、存儲和實(shí)時(shí)顯示,并集成了電源及溫度控制等功能,可以滿足不同用戶的實(shí)際需求,為他們提供一種快速探測熱點(diǎn)和熱梯度分析的有效手段。
展會期間應(yīng)客戶的要求,對該公司的一款手機(jī)充電器芯片發(fā)熱情況進(jìn)行了實(shí)際測試,取得了滿意的測試結(jié)果,多家MEMS芯片設(shè)計(jì)及封裝廠家對該產(chǎn)品表示出了極大的興趣,本次展出起到了良好的宣傳效果。